產(chǎn)品中心
PRODUCTS CNTER
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心光譜系統(tǒng)顯微缺陷膜厚
產(chǎn)品分類
OPTM 系列顯微分光膜厚儀$n 測量項目：$n$n? 絕.對反射率測量$n$n? 多層膜解析$n$n? 光學常數(shù)分析（n：折射率，k：消光系數(shù)）
更新時間：2025-09-16
產(chǎn)品型號：OPTM 系列
瀏覽量：8565
● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 ● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當于世界jie最zui快速的0.1秒以下來處理） ● 無驅(qū)動部，重復再現(xiàn)性高 ● 設置的測量項目少，測量簡單 ● 測量波長除了550nm以外，還有各種波長 ● Rth測量、全quan方位角測量 （需要option的自動旋轉(zhuǎn)傾斜治具 ● 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性 (本系統(tǒng)屬特注。）
更新時間：2025-09-16產(chǎn)品型號：瀏覽量：1121
●與產(chǎn)線的控制信號同步 ●通過光纖的自由的測試系統(tǒng) ●實現(xiàn)最短2ms～的光譜測量（LE-5400） ●同以往的產(chǎn)品相比，測量演算評價1個周期有可到半分鐘以下的高速機型
更新時間：2025-09-16產(chǎn)品型號：瀏覽量：987
可以測量0.01%或更低的單線態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。 單線態(tài)氧 (1270 nm) 的簡單直接光譜觀察 可在用于生物應用等的水性溶劑中測量。
更新時間：2025-09-16產(chǎn)品型號：瀏覽量：1049
采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm） 獨du特光學系統(tǒng)降低偏振誤差（1％）， 并且像LCD一樣具有偏振特性的樣品也可以進行高精度測量 可以執(zhí)行最短1秒的高速測量，包括通信時間。 （在連續(xù)測量的情況下，可以更快的進行測量，最短約20毫秒/次）
更新時間：2025-09-16產(chǎn)品型號：瀏覽量：1075
測量精度高 可瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率） 可去除再激勵熒光發(fā)光 采用了積分半球unit，實現(xiàn)了明亮的光學系統(tǒng)
更新時間：2025-09-16產(chǎn)品型號：瀏覽量：1436公司郵箱： qgao@buybm.com
服務熱線： 021-61052039
公司地址： 上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄創(chuàng)研智造C7區(qū)301室
Copyright © 2025 上海波銘科學儀器有限公司 AlL Rights Reserved
備案號：滬ICP備19020138號-2
技術支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
關于我們
公司簡介 企業(yè)文化 榮譽資質(zhì) 聯(lián)系我們快速通道
產(chǎn)品中心 新聞中心 技術文章 在線留言推薦產(chǎn)品
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 半導體晶圓缺陷檢測儀 ELSZ-2000系列ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統(tǒng) RU120便攜式拉曼光譜儀
相關文章